Descripción
- XJL-20/20BD Microscopio metalúrgico invertido está equipado excelente sistema óptico UIS y el diseño de la función de modularización de modo que el sistema de actualización de manera expedita y logró la polarización, la observación de campo oscuro. Compacto y estable cuerpo del bastidor principal es la encarnación para la resistencia a los golpes. El diseño ergonómico ideal se adopta en esta unidad y tiene una operación más fácil y un espacio más amplio. Es el instrumento óptico ideal para la microobservación en estructura metalográfica y morfología de superficies. Es adecuado para la investigación en metalografía, mineralogía, ingeniería de precisión, etc.
Especificación
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EspecificaciónOcularCampo amplio WF10X(número de campo: Φ22mm)ObjetivoXJL-20Equipado con objetivos de campo claroPL L10X/0,25 (Distancia de trabajo)：5 mmPL L20X/0,40 (Distancia de trabajo)：8,80 mmPL L50X/0,70 (Distancia de trabajo)：3,68 mmPL L100X/0,85（Seco） (Distancia de trabajo)：0,40 mmXJL-20BDEquipado con objetivos de campo claro y oscuroPL L5X/0,12 BD (Distancia de trabajo)：8,05 mmPL L10X/0,25 BD (Distancia de trabajo)：7,86 mmPL L20X/0,40 BD (Distancia de trabajo)：7,23mmPL L50X/0,70 BD (Distancia de trabajo)：2,50mmTubo ocularEl ángulo de inclinación es de 45˚ y la distancia interpupilar es de 53~75mm.Sistema de enfoqueEnfoque coaxial grueso/fino, con tensión ajustable，división mínima de enfoque fino, es de 2μm.Puente nasalQuíntuple (fijación interior con rodamiento de bolas hacia atrás)PlatinaEtapa mecánica tamaño total: 242mmX200mm y rango de movimiento: 30mmX30mm.Tamaño de la platina giratoria y rotatoria: la medida máxima es de Ф130mm y la abertura libre mínima es inferior a Ф20mm.Sistema de iluminaciónHalógena de 6V30W y control de habilitación de brillo., uso en XJL-2012V50W halógena y control de brillo, para uso en XJL-20BDDiafragma de campo integrado, el diafragma de apertura y el polarizador de tipo extractor.Equipada con cristal esmerilado y filtros amarillo, verde y azul
