Microscopio metalúrgico de contraste de interferencia diferencial XJL-302DIC

Descripción

  • El microscopio de contraste de interferencia diferencialDIC XJL-302 es adecuado para observar muchos tipos diferentes de objetos. Está equipado con iluminador transmitido y sistema DIC reflejado, objetivos acromáticos de plano infinito con larga distancia de trabajo, oculares de campo amplio y dispositivo polarizador. Proporciona una imagen clara y tridimensional, una escultura bella, un control cómodo, etc. Es el instrumento ideal en trabajos de investigación en biología, metalografía, mineralogía, ingeniería de precisión, electrónica, etc.






Especificación
  • Configuración estándar
  • Ocular
    SWF 10X Ocular acromático plano de gran campo número de campo de visión Ф22mm
    Objetivo (objetivo acromático plano de distancia de trabajo infinita y larga)
    Tipo
    Aumento
    Número apertura
    Distancia de trabajo (mm)
    Grosor del cubreobjetos (mm)
    Observación
    Objetivo de campo claro
    LMPlan5X
    0.12
    18.2
    0
    XJL-302DIC
    LMPlan10X
    0.25
    20.2
    0
    LMPlan20X
    0.35
    6.0
    0
    50X
    0.70
    3.68
    0
    80X
    0.80
    1.28
    0
    Tubo ocular
    Inclinación de 30˚ y la distancia interpupilar es de 53~75mm
    Sistema de enfoque
    Enfoque coaxial grueso/fino, con tensión ajustable y tope de división mínima de enfoque fino: 0,8μm
    Puente nasal
    Quíntuple (fijación interior con rodamiento de bolas hacia atrás)
    Platina
    Platina mecánica£¬tamaño:280mmX270mm£¬rango de movimiento: 204mmX204mm
    Unidad de polarización
    El polarizador puede girar 360° y conectarse o desconectarse
    El analizador puede conectarse o desconectarse
    Fuente de luz
    Halógena de 12V50W, control de habilitación de brillo
    Sistema de observación DIC
    Adecuado para objetivo 5X/10X/20X
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